納米顆粒追蹤分析(NTA)檢測(cè)
簡(jiǎn)要描述:納米顆粒追蹤分析(NTA)檢測(cè),納米顆粒跟蹤分析(Nanoparticle Tracking Analysis,NTA)技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-09-05
- 訪 問(wèn) 量:1473
納米顆粒追蹤分析(NTA)檢測(cè)
▎ 項(xiàng)目簡(jiǎn)介
納米顆粒跟蹤分析(Nanoparticle Tracking Analysis,NTA)技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。ZetaView 可以對(duì)于10nm–2000nm 范圍內(nèi)顆粒進(jìn)行直接觀察粒徑檢測(cè),單獨(dú)跟蹤視野中每一個(gè)顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡以得到每一個(gè)顆粒的粒徑信息。
納米顆粒追蹤分析(NTA)檢測(cè)
▎ 平臺(tái)簡(jiǎn)介:
本實(shí)驗(yàn)使用Zetaview進(jìn)行NTA(Nanoparticle Tracking Analysis)檢測(cè),具體品牌、軟件版本信息如下:
ZetaView PMX 110 (Particle Metrix, Meerbusch, Germany)
ZetaView 8.04.02 SP2
(2018/5/21前為ZetaView 8.04.02)
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù),結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能,讓用戶眼見為實(shí),更加直觀人性化。通過(guò)子體積的掃描,來(lái)自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來(lái)。此外,顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計(jì)數(shù)分析得到。
▎ 技術(shù)參數(shù):
可測(cè)的粒徑范圍 | Zeta電位:0.01-100微米 |
粒徑:0.01-3微米 | |
PH范圍 | 1-13 |
溫度范圍 | 5-45℃(環(huán)境溫度) |
▎ 樣品準(zhǔn)備:
我司無(wú)法準(zhǔn)確建議送樣量,檢測(cè)需要量與樣本本身濃度有關(guān):樣本濃,則用量小,反之則多;
儀器的最佳檢測(cè)區(qū)間是10^7 particles/ml,且有濃度檢測(cè)下限,為10^5 particles/ml,一般進(jìn)樣量不少于2ml;
不接收含腐蝕性成分的樣本。